SEM YF1801采用了简洁的设计语言，它的整体外观非常简约，没有过多的装饰和线条，采用理性几何切割，给人一种非常干净和精致的感觉。SEM YF1801采用经过会聚的高能电子束扫描样品表面，收集并解析样品产生的诸如二次电子，背散射电子，X射线等信号，以观察和分析样品的微观形貌，成分衬度，以及成分信息。它可以应用于多个行业：半导体工业、生物医学工业、传统材料工业和纳米材料工业。该产品荣获IDEA设计奖。
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